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日本日置 600MHz阻抗分析儀 IM7583-01/02 高速、高穩(wěn)定性測(cè)量，提高生產(chǎn)量！測(cè)量時(shí)間：較快0.5ms ● 測(cè)量頻率：1MHz~600MHz ● 測(cè)量時(shí)間：較快0.5ms（模擬測(cè)量時(shí)間） ● 基本精度：±0.65% rdg. ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小，測(cè)試頭僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查功能（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定）
查看詳細(xì)介紹日本日置 1.3GHz阻抗分析儀 IM7585-01/02 高速、高穩(wěn)定性測(cè)量，提高生產(chǎn)量！測(cè)量時(shí)間：較快0.5ms，測(cè)量值偏差0.07% ● 測(cè)量頻率：1MHz~1.3GHz ● 測(cè)量時(shí)間：較快0.5ms（模擬測(cè)量時(shí)間） ● 測(cè)量值偏差：0.07%（測(cè)量頻率1GHz時(shí)的代表值） ● 基本精度：±0.65% rdg. ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小，測(cè)試頭僅手掌大小
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日本日置阻抗分析儀 IM7587-01/02 可信賴(lài)的機(jī)型3GHz ● 測(cè)試電壓測(cè)量頻率：1MHz~3GHz ● 測(cè)量時(shí)間：較快0.5ms（模擬測(cè)量時(shí)間） ● 測(cè)量值偏差：0.07%（測(cè)量頻率1GHz時(shí)的代表值） ● 基本精度：±0.65% rdg. ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小，測(cè)試頭尺寸僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定）
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日本日置 LCR測(cè)試儀 IM3536 DC，4Hz~8MHz測(cè)量頻率 ● 測(cè)量頻率DC，4Hz~8MHz ● 測(cè)量時(shí)間：較快1ms ● 基本精度：±0.05% rdg ● 1mΩ以上的精度保證范圍，也可安心進(jìn)行低阻測(cè)量 ● 可內(nèi)部發(fā)生DC偏壓測(cè)量 ● 從研發(fā)到生產(chǎn)線活躍在各種領(lǐng)域中
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無(wú)線電壓/熱電偶數(shù)據(jù)采集儀 LR8515 使用無(wú)線輕松采集各種數(shù)據(jù)，1臺(tái)即可對(duì)應(yīng)電壓輸出和熱電偶K、T測(cè)量 ● 1臺(tái)儀器可以測(cè)量照度計(jì)和熱流傳感器的微小電流乃至電池電壓和溫度 ● 放置空間要求低，小巧的2ch ● 測(cè)量數(shù)據(jù)可通過(guò)Bluetooth®無(wú)線技術(shù)傳輸至平板電腦或者計(jì)算機(jī)中也能使用LR8410-30或LR8410-30特制品實(shí)時(shí)采集
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上海君達(dá)儀器儀表有限公司
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