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日本日置電池阻抗分析儀 BT4560 鋰電池的可靠性判斷 10秒 ● 低頻AC-IR*測(cè)量，測(cè)量時(shí)間短 *使用1Hz以下的低頻測(cè)量?jī)?nèi)阻的話不需要充放電 ● 也能精確*測(cè)量低阻電池 *改善S/N比，在3mΩ量程下測(cè)試電流為1.5A ● 電路結(jié)構(gòu)較難受到接觸電阻和布線電阻的影響，實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定測(cè)量 ● 同時(shí)測(cè)量阻抗和電壓
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日本日置掃描模塊機(jī)架 SW1001/SW1002 適用于電池測(cè)量，保證組合精度 ● 可以進(jìn)行電壓計(jì)和電池測(cè)試儀切換并測(cè)量 ● 大264ch（2線）～72ch（4端子） ● 考慮到阻抗測(cè)量的回路設(shè)計(jì)，減少測(cè)量誤差（影響量0.01%f.s.※1） ※ 1 BT4560 100mΩ量程、R測(cè)量、測(cè)量頻率1kHz時(shí) ● 適用于電池單元的OCV測(cè)量、內(nèi)部電阻測(cè)量、外部電位測(cè)量
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日本日置 電池測(cè)試儀 BT3564 大輸入電壓1000V，針對(duì)EV、PHEV的耐高壓電池測(cè)試儀 ● 高可對(duì)應(yīng)1000V的直接測(cè)量 ● 適用于針對(duì)EV、PHEV的高壓電池的生產(chǎn)線 ● 內(nèi)部電阻測(cè)量0.1mΩ～3kΩ（總包電阻/母線電阻） ● 搭載高壓測(cè)試防火花功能 ● 模擬輸出功能 ● 能對(duì)應(yīng)1000V和高壓電池組的測(cè)量探頭（選件）
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日本日置 300MHz阻抗分析儀 IM7581-01/02 較快0.5ms，覆蓋100kHz~300MHz的低頻 ● 測(cè)量頻率1MHz~300MHz ● 測(cè)量時(shí)間：較快0.5ms ● 基本精度±0.72%rdg. ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小、測(cè)試頭僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查功能（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定） ● 使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量
查看詳細(xì)介紹日本日置 300MHz阻抗分析儀 IM7580A-1/2 較快0.5ms，高速、高穩(wěn)定測(cè)量，節(jié)省空間的半個(gè)機(jī)架大小 ● 測(cè)量頻率1MHz~300MHz ● 測(cè)量時(shí)間：較快0.5ms ● 基本精度±0.72%rdg. ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小、測(cè)試頭僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查功能（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定） ● 使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量
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上海君達(dá)儀器儀表有限公司
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