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日本日置LCR測(cè)試儀

更新時(shí)間：2019-06-05

日本日置LCR測(cè)試儀3532-50概要：
1.測(cè)試頻率可在42Hz～5MHz寬廣頻率量程內(nèi)以4位精確度自由調(diào)整
2.可很容易地測(cè)試被測(cè)物在高頻量程內(nèi)的特性。操作非常簡(jiǎn)便，改變?cè)O(shè)置時(shí)通過(guò)觸模屏幕，所需的設(shè)定選項(xiàng)會(huì)順序排列顯示出來(lái)
注：輸入用探頭/測(cè)試夾具，實(shí)體不附帶。按照測(cè)量目的，不同型號(hào)有不同的探頭/測(cè)試夾具選件

3532-50日本日置LCR測(cè)試儀的詳細(xì)資料

一、日本日置LCR測(cè)試儀3532-50的優(yōu)點(diǎn)

搭配寬幅測(cè)試頻率的阻抗測(cè)試儀

測(cè)試頻率可在42Hz～5MHz寬廣頻率量程內(nèi)以4位精確度自由調(diào)整

可很容易地測(cè)試被測(cè)物在高頻量程內(nèi)的特性。操作非常簡(jiǎn)便，改變?cè)O(shè)置時(shí)通過(guò)觸模屏幕，所需的設(shè)定選項(xiàng)會(huì)順序排列顯示出來(lái)

輸入用探頭/測(cè)試夾具，實(shí)體不附帶。按照測(cè)量目的，不同型號(hào)有不同的探頭/測(cè)試夾具選件

二、日本日置LCR測(cè)試儀3532-50的基本參數(shù)

測(cè)量參數(shù)	│Z│,│Y│,θ,Rp,Rs(ESR),G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tanδ)和Q
測(cè)量方法	測(cè)量源：恒流10μ～100mA(42Hz～1MHz)，50μ～20mA (1MHz～5MHz)，或恒壓10mV～5V(42Hz～1MHz),50mV～1V(1MHz～5MHz) 檢測(cè)：電壓，AC
測(cè)量頻率	42Hz～5MHz
測(cè)量量程	│Z│，R，X：10.00mΩ～200.00MΩ(視條件而定) θ:-180.00～＋180.00o，C:0.3200pF～370.00mF L:16.000nH～750.00kH, D:0.00001～9.99999 Q:0.01～999.99， Y,G,B：5.0000nS～99.999S
基本精度	│Z│: ± 0.08% rdg.，θ: ± 0.05°
測(cè)量時(shí)間│Z│的典型值	快速：5ms～慢速2：140ms
顯示	zui大顯示值99999，LCD背光功能
比較器功能	設(shè)定：上、下限值，百分比或值輸出：3檔（高，中，低），開(kāi)路集電極，絕緣
外部打印	9442 （與9443/9446/9593-01同時(shí)使用）
電源供應(yīng)	100～240V AC 50/60Hz
體積及重量	352寬 x124高 x 323厚mm，6.5kg
附件	電源線（1），保險(xiǎn)絲（1），使用說(shuō)明書(shū)（1）