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日本日置LCR測試儀3532-50概要: 1.測試頻率可在42Hz~5MHz寬廣頻率量程內(nèi)以4位精確度自由調(diào)整 2.可很容易地測試被測物在高頻量程內(nèi)的特性。操作非常簡便,改變設置時通過觸模屏幕,所需的設定選項會順序排列顯示出來 注:輸入用探頭/測試夾具,實體不附帶。按照測量目的,不同型號有不同的探頭/測試夾具選件
查看詳細介紹日本日置電氣阻抗分析儀 IM3570 1臺儀器實現(xiàn)不同測量條件下的高速檢查 ● 1臺儀器實現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查 ● LCR模式下較快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速測量 ● 基本精度±0.08%的高精度測量 ● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測量
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上海君達儀器儀表有限公司
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